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在数字集成电路（Digital Integrated Circuit, 简称数字IC）设计领域，DFT（Design for Testability，可测试性设计）和后端设计是两个至关重要的方向。DFT确保芯片在制造后能够高效、准确地检测出潜在的故障，而后端设计则关乎芯片的物理实现，包括布局布线、时序分析等。为了帮助你在这些方向上深入学习，以下是一些经典且实用的书籍推荐。 DFT方向推荐书籍 1. 《数字系统测试和可测试性设计》 这本书是DFT领域的经典教材之一，全面介绍了数字系统的测试和可测试性设计的基本原理和方法。书中从故障模型开始，详细讲解了扫描电路结构、测试向量生成、内建自测试（BIST）以及测试压缩方法。书中不仅有理论知识的介绍，还包含了大量的实例和习题，适合DFT初学者和进阶学习者。通过阅读这本书，你可以系统地掌握DFT的基本概念和技术，为实际工作打下坚实的基础。 2. 《VLSI测试方法学和可测性设计》 这本书深入探讨了VLSI（Very Large Scale Integration，超大规模集成电路）的测试方法学和可测性设计。书中详细介绍了组合电路和时序电路的测试方法，包括扫描和边界扫描理论、IDDQ测试、随机和伪随机测试原理等。书中不仅有理论知识，还结合了大量的实际案例，帮助读者理解复杂概念。对于希望通过理论学习提升实际操作能力的读者来说，这本书无疑是一个宝贵的资源。 3. 《VLSI Test Principles and Architectures》 这本书是DFT领域的另一本经典教材，全面介绍了VLSI测试的基本原理和架构。书中详细讲解了测试模式生成、边界扫描、BIST（内建自测试）、ATPG（自动测试模式生成）等DFT技术的原理和应用。书中不仅有详细的理论推导，还包含了大量的实际案例和习题，帮助读者从理论到实践全面掌握DFT技术。对于希望深入学习DFT技术的读者来说，这本书是一个不可多得的学习资源。 后端设计方向推荐书籍 1. 《数字集成电路物理设计》 这本书是国内第一本全面、完整介绍数字集成电路后端布局布线设计技术的书籍。书中详细介绍了从门级网表到最终布局布线版图生成过程中所涉及的多方面重要工作，包括布图规划、电源规划、布局、时钟树综合、布线、寄生参数提取、静态时序分析、签收验证和物理...